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熱電特性評(píng)價(jià)裝置 ZEM-3系列的測(cè)量原理分析
這是一種同時(shí)測(cè)量熱電材料的熱電率(塞貝克系數(shù))和電導(dǎo)率的裝置。我們準(zhǔn)備了溫度范圍為-80°C至1000°C的測(cè)量?jī)x器,操作簡(jiǎn)單。
半導(dǎo)體,陶瓷,金屬等廣泛材料的熱電特性評(píng)價(jià)。
樣品以圓柱形或方柱的形式垂直放置在加熱爐中的上塊和下塊之間。通過(guò)下塊中的加熱器給樣品施加溫度梯度,同時(shí)將樣品加熱并保持在規(guī)定的溫度。塞貝克系數(shù)的測(cè)量是通過(guò)測(cè)量壓在樣品側(cè)面的熱電偶上的上部和下部T1,T2與熱電偶一側(cè)的同一股線(xiàn)之間的熱電動(dòng)勢(shì)dE來(lái)確定的。
電阻測(cè)量采用直流四端法,通過(guò)在樣品兩端施加恒定電流I,測(cè)量熱電偶同一元件線(xiàn)之間的電壓降dV,并去除引線(xiàn)之間的熱電動(dòng)勢(shì)來(lái)確定。
采用溫度可控性?xún)?yōu)異的紅外線(xiàn)金像加熱爐和溫差控制用微加熱器
測(cè)量由計(jì)算機(jī)控制,可以在規(guī)定溫度下對(duì)各溫差進(jìn)行測(cè)量,也可以消除暗電動(dòng)勢(shì)等自動(dòng)測(cè)量
標(biāo)配自動(dòng)歐姆接觸檢查(V-I圖)
可選附件可用于測(cè)量薄膜
可定制為高電阻